baner

Recenzja

W poszukiwaniu straconego genu

Łukasz Słoński recenzuje Blame! #01
7/10
W poszukiwaniu straconego genu
7/10
Polscy czytelnicy z fabułami japońskiego mangaki mogli zapoznać się dwa lata temu dzięki „Abarze”. Już w przypadku tego komiksu można było dostrzec, że autor nie jest zwolennikiem jasnych i prostych narracji. Lubuje się raczej w nieco chaotycznym snuciu opowieści, która w przypadku wspomnianego tytułu została osadzona w nieokreślonej rzeczywistości, rządzącej się niejasnymi prawami. Z podobnymi realiami Nihei konfrontuje polskich czytelników w niedawno wydanym „Blame!”. Także i w tym przypadku można poczuć się przytłoczonym nieszablonową wyobraźnią artysty. Edycja wydana przez JPF została oparta na japońskim wznowieniu zbierającym dwa tomy w jednym woluminie (całość ma składać się z sześciu części).

Killy – tajemniczy bohater poszukujący unikalnego genu – jest główną postacią komiksu. Poznajemy go w momencie, kiedy wędruje z chłopcem posiadającym ów rzadko spotykany gen terminalu sieciowego. Okazuje się, że nie tylko Killy'emu zależy na genotypie, ponieważ zostaje zaatakowany przez wędrowca w łachmanach. Wygraną w tym pierwszym starciu zapewnia mu niepozorny pistolet, który okazuje się zabójczą bronią nie tylko na czających się w ciemnościach przeciwników, ale także dla okolicznych budynków. Takich spektakularnych walk na łamach ponad 400 stronicowego komiksu jest bardzo dużo, co poniekąd wynika z konfliktu interesów między różnymi grupami, na jakie natyka się Killy. Czasami zdarzają się spokojniejsze momenty, chwile gdy bohaterowi udaje się porozmawiać z nielicznymi mieszkańcami tego dziwacznego świata. Jednak dialogów w „Blame!” nie uświadczymy zbyt wielu, co może być celowym zabiegiem twórcy, który pragnie zdezorientować czytelników.

W przypadku komiksów Niheiego łatwiej pisać o rysunkach niż o niejasnej fabule, która może zacznie się rozwijać w kolejnych tomach. Natomiast fani cyberpunkowej architektury powinni być zachwyceni. Pełno tu pnących się w górę wielopoziomowych budowli, wychodzących ze ścian kabli i rur, a także krętych schodów oraz mrocznych zaułków. Nihei bez problemu przechodzi od dusznych korytarzy do platform zawieszonych niemal w powietrzu, tworząc szczegółowy obraz industrialnego labiryntu. Miejsca te często stają się areną walk, rujnowane przy okazji niszczycielską mocą pistoletu Killy'ego. W skrupulatnym opracowaniu interesującego i zróżnicowanego tła „Blame!” bez wątpienia pomogło Niheiemu wykształcenie, gdyż skończył architekturę. Twórca swoimi rysunkami odmalowuje mroczny świat także poprzez wizerunki postaci, które w nim żyją. Na stronicach komiksu znajdziemy różne wizje hybrydowej fizyczności, nierzadko przyjmujące potworny wygląd.

Lektura pierwszego tomu pozostawi czytelnika z wieloma pytaniami, na które odpowiedzi będzie trzeba poszukiwać w dalszych tomach. Na razie mamy przepięknie zaprezentowany świat i szczątkowy zarys fabuły. Seria może trafić w gusta osób lubujących się w mrocznych obrazach przyszłości, nielicznych może zniechęcić wspomnianymi powyżej niedopowiedzeniami.

Opublikowano:



Blame! #01

Blame! #01

Scenariusz: Tsutomu Nihei
Rysunki: Tsutomu Nihei
Wydanie: I
Data wydania: Kwiecień 2016
Seria: Blame!
Druk: czarno-biały
Oprawa: miękka, obwoluta
Format: B5
Stron: 400
Cena: 63,00 zł
Wydawnictwo: JPF
ISBN: 9788374715713
WASZA OCENA
Brak głosów...
TWOJA OCENA
Zagłosuj!

Galerie

W poszukiwaniu straconego genu W poszukiwaniu straconego genu W poszukiwaniu straconego genu

Komentarze

-Jeszcze nie ma komentarzy-